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超声波探头-双晶探头

 

       双晶探头，又称组合探头，两块压电晶片装在一个探头架内，一个晶片发射，另一个接收。双探头发射及接收纵波，晶片下的延迟块使声波延迟一段时间后射入工件，这样可探测近表面的缺陷并可提高分辨力。两块晶片有一倾角（一般约3°~18°），两晶片声场重合部分（阴影部分），是探伤灵敏度较高的部位。

 

      双晶探头的双晶片声场重叠区灵敏度最高，一般用于定向定位检测，检测深度较小，检测灵敏度较高。常用的双晶探头有纵波双晶直探头、横波双晶斜探头和纵波双晶斜探头三种。纵波双晶直探头检测晶片正下方与声束方向垂直的缺陷；横波双晶斜探头用于检测探头下方不同角度方向的缺陷，适用于母材厚度较小及薄壁管焊缝；纵波双晶斜探头主要用于检测奥氏体不锈钢焊缝。

 

 

            双晶片探头