超声波探头-双晶探头的组合性能侧试方法（TB/T 3078-2003 附录 B）
TB/T 3078-2003 附录 B 探头的组合性能侧试方法。
B.1 超声波探头的组合灵敏度余量
将探头置 于试块声程 T=40 mm 处的 Φ5 mm 平底孔位里，调节仪器增益旋钮，使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的50%，读出仪器衰减器读数S。
衰减 器分贝总量减去 S 即为探头的组合灵敏度余量。
B.2 探头的焦距
B.2.1 将探头置于试块声程 T=40 mm 处的 Φ3 mm 横孔位置，调节仪器增益旋钮，使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的 80%，读出仪器衰减器读数S0。
B.2.2 将探头移至试块声程 T=35 mm 处的 Φ3 mm 横孔位里，调节仪器增益旋钮，使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的80%，读出仪器衰减器读数S1。
B.2.3 再将探头移至试块声程 T=45 mm 处的 Φ3 mm 横孔位置，调节仪器增益旋钮，使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的80%，读出仪器衰减器读数S2。
B.2.4 分别求出 △1=S0一S1 和 △2 = So一S2 的值，△1 与 △2 应小于等于 3 dB。
B.3 探头的隔声信噪比
将探 头 里 于试块声程 T=40 mm 处的 Φ5 mm 平底孔位置，调节仪器增益旋钮，使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的 80%，再增益 20 dB。此时，探头离开试块表面，擦去探头表面的油层，读出此时的杂波高度。
简体中文
English
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
